德國GMC METRISO PRIME+絕緣電阻測試儀測試電壓高達5000V DC，電壓測量到1000V，檢測被測裝置的剩余電壓，可達到1000V?，F在熱賣中，如需購買，可通過客服熱線聯系我們！
德國GMC METRISO PRIME+絕緣電阻測試儀簡介：
•數字式高壓絕緣測試儀，測試電壓高達5000V DC，電壓測量到1000V
•檢測被測裝置的剩余電壓，可達到1000V
•為容性被測裝置放電
容性被測裝置如電纜和線圈，可能由于測試電壓使之充電，利用測量儀可以為其放電，品目可顯示電壓值下降過程
測量遵循EN61557，DIN VDE 0413
測試電壓為100,250,500或者1000V，額定電流為1Ma
•高絕緣性能測量電纜
出于安全考慮，高絕緣性能測量電纜與測試儀采樣固定連接，以避免無意中斷電纜連接而形成的風險
•測量極化指數(PI)
電氣機器通常要進行極化指數測試，這個測試過程就是絕緣電阻測試的擴展。 METRISO PRIME+提供的直流測量，電壓在絕緣測試中可以持續十分鐘。測試一分鐘后記錄測量結果，十分鐘后再記錄一個測量結果。如果十分鐘時的測量值大于一分鐘時的測量值，說明絕緣良好。兩次測量值之比即為極化指數。在絕緣測試過程中，由于測量電壓持續時間長可充電材料內部載流子排成直線，導致ji化現象。極化指數表示帶電的絕緣材料內部載流子是否還可移動，即是否還可被極化亦即極化指數表明絕緣性能狀態。
產品特性
測試電壓可達 5000 伏（V）
該儀器適用于電氣系統、機械設備（如電機）、變壓器、電纜及電氣設備（如機車、有軌電車、遠洋船舶所用設備）的非破壞性絕緣電阻測量，可選擇 5 千伏（kV）的測試電壓。
電壓測量范圍可達 1000 伏（V）
利用電壓測量功能，可在 1 千伏（kV）的系統中，測試被測設備是否無電壓。
被測容性設備放電
電纜、線圈等被測容性設備可能會被測試電壓充電，本儀器可對其進行放電，放電過程中電壓下降值可在顯示屏上觀察到。
符合 EN 61557 第 1 部分和第 2 部分（VDE 0413）標準的測量
當測試電壓為 100 伏（V）、250 伏（V）、500 伏（V）或 1000 伏（V）時，額定電流為 1 毫安（mA）。
高絕緣測量電纜
出于安全考慮及技術測量要求，高絕緣測量電纜采用固定連接方式。這樣可避免因電纜意外斷開（如被測容性設備充電時）帶來的危險。
極化指數（Polarization Index）
電氣設備建議進行極化指數測試，該測試是對絕緣電阻的擴展測試。使用 METRISO PRIME + 施加直流測量電壓于絕緣層，持續 10 分鐘，分別在 1 分鐘和 10 分鐘后記錄測量值。若絕緣性能良好，10 分鐘后的測量值會大于 1 分鐘后的測量值，兩者的比值即為極化指數。
長時間施加測量電壓會使絕緣層內的帶電物質定向排列，產生極化現象。極化指數可反映絕緣層內帶電物質是否仍可移動（即是否能產生極化），進而判斷絕緣層的狀態。
數據管理與報告生成
每次測量的數據可按選定的對象編號存儲，還可通過選配件 PSI 模塊（特性 I1）的鍵盤為該對象輸入描述信息。
數據管理功能支持：顯示選定對象的單個測量數據、按需刪除單個測量數據或刪除已錄入的對象。
根據存儲對象數量（最多 254 個），最多可存儲 1600 條測量數據，當前內存占用情況以柱狀圖實時顯示。
可通過 PSI 模塊（特性 I1）或打印機適配器 DA-II（配件），將報告數據在外接 Centronics 接口打印機上打印輸出。
應用領域
適用于大型系統、電纜、電機、發電機等設備的絕緣測量。
德國制造（MADE IN GERMANY）
德國國家認可委員會（DAkkS）
測量類別 IV（CAT IV）
功能配置
超大測量范圍：0.4 兆歐（MΩ）-1 太歐（TΩ）
可變測試電壓，或固定檔位：100 伏（V）、250 伏（V）、500 伏（V）、1.0 千伏（kV）、1.5 千伏（kV）、2.0 千伏（kV）、2.5 千伏（kV）、5.0 千伏（kV）
極化指數與吸收比測量功能
電壓測量范圍可達 1000 伏（V）
頻率測量范圍：15 赫茲（Hz）-1 千赫茲（kHz）
電容測量范圍：0.1 微法（μF）-5 微法（μF）
放電測量功能
保護端（Guard terminal），可補償表面電流，標配 5 米延長線
供電方式：市電供電、內置蓄電池組或外接 12 伏（V）電源
背光點陣顯示屏
數字顯示測量值與限值
定時功能：1 秒 - 100 分鐘
數據記錄功能
德國國家認可委員會（DAkkS）校準證書
產品規格
測量標準
| 標準（Standard） | DIN EN 61557-1:2007、DIN EN 61557-2:2008 |
|---|---|
| 德國電氣工程師協會規范（VDE Regulation） | VDE 0413-1:2007、VDE 0413-2:2008 |
絕緣電阻
| 顯示范圍（Display Range）[Ω] | 測量范圍（Measuring Range） | 測試電壓（Test Voltage） | 固有誤差（Intrinsic Uncertainty） | 測量誤差（Measuring Uncertainty） |
|---|---|---|---|---|
| 0.00 兆歐（MΩ）-50.0 吉歐（GΩ）、0.60 兆歐（MΩ）-10.0 吉歐（GΩ） | - | 100 伏（V）-250 伏（V） | ±（7% 讀數 + 6 位） | ±（10% 讀數 + 8 位） |
| >10.0 吉歐（GΩ）-50.0 吉歐（GΩ） | - | - | ±（7% 讀數 + 6 位） | ±（10% 讀數 + 8 位） |
| 0.00 兆歐（MΩ）-250 吉歐（GΩ） | 0.40 兆歐（MΩ）-50.0 吉歐（GΩ） | >250 伏（V）-1.00 千伏（kV） | ±（7% 讀數 + 6 位） | ±（10% 讀數 + 8 位） |
| >50.0 吉歐（GΩ）-250 吉歐（GΩ） | - | - | ±（7% 讀數 + 6 位） | ±（10% 讀數 + 8 位） |
| 0.00 兆歐（MΩ）-999 吉歐（GΩ） | 0.40 兆歐（MΩ）-200 吉歐（GΩ） | >1.00 千伏（kV）-5.00 千伏（kV） | ±（7% 讀數 + 6 位） | ±（10% 讀數 + 8 位） |
| >200 吉歐（GΩ）-999 吉歐（GΩ） | - | - | ±（7% 讀數 + 6 位） | ±（10% 讀數 + 8 位） |
極化指數（PI）、吸收比（DAR）
| - | 時間 1（t1）[分鐘] | 時間 2（t2）[分鐘] | 限值（Limit）[分鐘] |
|---|---|---|---|
| 極化指數（PI） | 00:00-01:00-99:50 | 00:00-10:00-99:50 | 0.10-4.00-9.80 |
| 吸收比（DAR） | 00:00-00:30-99:50 | 00:00-01:00-99:50 | 0.10-1.60-9.80 |
絕緣測試電壓
| 測試電壓額定值（Nominal Values of Test Voltage） | 可變測試電壓（Variable Test Voltage） | 額定電流（Nominal Current） | 固有誤差（Intrinsic Uncertainty） |
|---|---|---|---|
| 100 伏（V）、250 伏（V）、500 伏（V）、1.00 千伏（kV） | - | ≥1.0 毫安（mA） | 0-+25% 讀數 |
| 1.50 千伏（kV）、2.00 千伏（kV）、2.50 千伏（kV） | - | ≥0.4 毫安（mA） | ±5% 讀數 |
| 5.00 千伏（kV） | - | ≥0.1 毫安（mA） | ±3.5% 讀數 |
| 100 伏（V）-1.00 千伏（kV） | - | ≥1.0 毫安（mA） | ±15% 讀數 |
| >1.00 千伏（kV）-2.50 千伏（kV） | - | ≥0.4 毫安（mA） | ±5% 讀數 |
| >2.50 千伏（kV）-5.00 千伏（kV） | - | ≥0.1 毫安（mA） | ±3.5% 讀數 |
電壓測量
| 測量范圍（Measuring Range） | 頻率（Frequency）[Hz] | 阻抗（Impedance） | 固有誤差（Intrinsic Uncertainty） | 測量誤差（Measuring Uncertainty） |
|---|---|---|---|---|
| 直流測試電壓（test voltage dc）：50 伏（V）-5.00 千伏（kV） | - | - | ±（2.5% 讀數 + 5 位） | ±（5% 讀數 + 5 位） |
| 交 / 直流 50 伏（V）-1.00 千伏（kV）（50 V ... 1.00 kV ac/dc） | 15-500 | 1 兆歐（MΩ） | ±（2.5% 讀數 + 2 位） | ±（5% 讀數 + 5 位） |
| 交 / 直流 50 伏（V）-1.00 千伏（kV）（50 V ... 1.00 kV ac/dc） | >500-1000 | 1 兆歐（MΩ） | ±（10% 讀數 + 2 位） | ±（12.5% 讀數 + 5 位） |
頻率測量
| 測量范圍（Measuring Range） | 阻抗（Impedance） | 固有誤差（Intrinsic Uncertainty） | 測量誤差（Measuring Uncertainty） |
|---|---|---|---|
| 15.0 赫茲（Hz）-1.00 千赫茲（kHz） | 1 兆歐（MΩ） | ±（0.5% 讀數 + 2 位） | ±（1% 讀數 + 2 位） |
擊穿電壓
| 參數（Parameters） | 設置范圍（Setting Range） | 固有誤差（Intrinsic Uncertainty） | 測量誤差（Measuring Uncertainty） |
|---|---|---|---|
| 電壓范圍（Voltage range） | 100-5000 伏（V） | ±（10% 讀數 + 8 位） | ±（15% 讀數 + 10 位） |
| 上升時間（Rise time） | 5-300 秒（s） | - | - |
| 測量時間（Measuring time） | 1-120 秒（s）/ 自動（auto）/ 連續測量（cont. measurement） | - | - |
電容測量
| 顯示范圍（Display Range） | 測量范圍（Measuring Range） | 測試電壓（Test Voltage） | 固有誤差（Intrinsic Uncertainty） | 測量誤差（Measuring Uncertainty） |
|---|---|---|---|---|
| 0.00-10.0 微法（μF） | 0.10-5.00 微法（μF） | 100-450 伏（V） | ±（10% 讀數 + 5 位） | ±（15% 讀數 + 8 位） |
| - | - | 500-5000 伏（V） | ±（5% 讀數 + 5 位） | ±（10% 讀數 + 8 位） |
